Elektrophysik MiniTest 7400測厚儀華東總代理

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Ⅰ.產(chǎn)品介紹

MiniTest 7400測厚儀通過圖形界面操作，提供類似于PC的幫助功能：特定于上下文的幫助，文件夾結構中的讀數(shù)歸檔以及帶符號和文本顯示的菜單導航。用戶指南有4種語言，其他正在準備中。涂層厚度計具有多種外部可互換傳感器。圖形顯示允許直接顯示統(tǒng)計值，趨勢圖，直方圖和簡化的用戶指南。

Ⅱ.典型應用領域

MiniTest 7400測厚儀能夠測量鐵磁性基底（鋼）上的非磁性涂層（漆，合成材料，鉻等），以及導電基底（鋁）上的絕緣涂層（清漆，搪瓷，合成材料等），銅，不銹鋼）

MiniTest 7400可以進行廣泛的測量，從亞微米范圍內(nèi)zui薄的涂層（例如鍍鋅涂層），難以測量的物體的幾何形狀（例如鋼針測量，測量凹陷和孔等）直到厚涂層（例如鋼結構，橡膠涂層等中的阻燃涂層）。

Ⅲ.良好的傳感器技術

SIDSP傳感器在技術上是良好的，并且由于其制造過程而在其精度和再現(xiàn)性方面*。盡管高精度的傳感器是耐磨的，甚至可以承受多年的使用在粗糙的表面。每個傳感器都經(jīng)過全自動工廠測試，并提供50個校準點，用于校正即使是zui小的偏差。此外，在制造它們時，每個傳感器用溫度補償編碼，以自動校正溫度對讀數(shù)的影響。

Ⅳ.儀器突出特點

• 用于所有金屬的非破壞性測量基板
• 方便的圖形顯示與眾多顯示選項
• 直觀的菜單控制，增強的數(shù)據(jù)管理配置助手
• 用于簡化配置評估的PC軟件和設置數(shù)據(jù)報告
• 耐磨傳感器，用于大量測量任務厚度可達35 mm
• SIDSP®技術，和可重復讀數(shù)

Elektrophysik MiniTest 7400測厚儀華東總代理

Ⅴ.詳細描述：

具有上下文相關聯(lián)機幫助的直觀菜單控件確保易于使用。
大背光控制鍵允許額外的舒適，即使戴著工作手套。
的觀察條件由大背光圖形顯示器提供
方便在夜間和能見度差的條件下使用。
配備一個配置助手，MiniTest 7400簡化了校準和參數(shù)設置，允許在zui短的時間內(nèi)解決困難的測量任務，而無需特殊技能。
PC類似數(shù)據(jù)管理提供快速創(chuàng)建文件夾和輕松設置定制批次。
除了讀數(shù)的數(shù)字顯示外，統(tǒng)計數(shù)據(jù)和讀數(shù)的清晰排列的表示包括趨勢和直方圖，過程能力指數(shù)“Cp”和“Cpk”以及塊值統(tǒng)計。
錯誤的讀數(shù)可以從批處理中刪除，以防止誤導性統(tǒng)計。

Ⅵ.統(tǒng)計校準

大數(shù)據(jù)存儲器允許存儲多達250,000個讀數(shù)，zui多500個批次用于邏輯數(shù)據(jù)管理。
為了滿足高精度測量的要求，MiniTest 7400傳感器zui多可以校準5個點（包括零點）。
預定義的校準方法可用于執(zhí)行符合工業(yè)規(guī)范和標準ISO 19840，SSPC，“瑞典語”，“澳大利亞”的測量。
此外，可以在粗糙表面上進行特殊的校準方法

配置包括PC軟件包“MSoft 7 Professional”，便于設置和評估測量組以及以各種數(shù)據(jù)格式導出。軟件將數(shù)據(jù)導出為文本文檔，Excel®電子表格或PDF文件格式，并允許輸入注釋和注釋。

Ⅶ.特殊功能：也可以將測量樣品的圖片添加到數(shù)據(jù)報告中。

Ⅷ.外部接口

配備多種接口，MiniTest 7400可連接各種接口外圍設備。

紅外接口（IrDA®1.0）可作為標準功能使用。

多用途適配器可作為選件提供，作為USB接口，用于連接各種設備，如電源單元，耳機，腳踏開關或警報裝置。

對于單一設備連接，可以使用RS232和USB適配器電纜以及USB到IrDA®轉換器。

篤摯儀器（上海）有限公司的產(chǎn)品和系統(tǒng)方案廣泛應用于大中型國有企業(yè)、汽車制造業(yè)、精密機械、模具加工、電子電力、鑄造冶金、航空航天、工程建筑、大專院校等研究實驗室和生產(chǎn)線、質(zhì)量控制和教育事業(yè)，用于評價材料、部件及結構的幾何特征和理化性能，推動著精良制造技術的精益求精。

DOOZ INSTRUMENT (SHANGHAI) CO., LTD.is an instruments and equipment supplier and service provider specialized in mechanical measurement machine, materials chemical composition, physical performance testing and analysis.

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：張磊

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