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菲希爾X射線XULM測厚儀適用領(lǐng)域特點 適合測量小的結(jié)構(gòu)。它配備了微聚焦管，測量點最小可達約100μｍ，同時比例接收器仍然可以保持相對高的計數(shù)率。

菲希爾X射線熒光測厚儀XUL小型臺式 射線管出射點稍大，非常適合測量點在1mm以上的應(yīng)用

菲希爾Fischer測厚儀XUL220/X射線 x射線熒光鍍層測厚及材料分析儀，用于無損測量鍍層厚度及分析材料成分

菲希爾FISCHERSCOPE X-RAY XDL230，菲希爾X射線，F(xiàn)ISCHER X射線測厚儀，菲希爾鍍層測厚儀。

Fischer菲希爾DualScope FMP20膜厚儀測厚儀 DualScope FMP20兩用法涂鍍層測厚儀 能夠測量鐵/鋼和非鐵磁金屬以及非導(dǎo)電材料上的許多涂層。根據(jù)您的測量應(yīng)用，您可以根據(jù)磁感應(yīng)法，渦流法或根據(jù)兩種方法組合在一臺儀器中進行的涂層厚度測量。

Fischer Scope MMS PC2多功能測厚儀* 評估: *省去了用戶在對測量數(shù)據(jù)進行統(tǒng)計評估時常常需要進行的復(fù)雜而大量的數(shù)學(xué)計算。統(tǒng)計特性可以以列表和諸如正態(tài)分布圖及柱狀圖的圖形形式查看和打印。我們提供一系列插入式測試模塊使其具有Z大的靈活性。

FischerScope MMS 多功能測厚儀 FISCHERSCOPE MMS 適于涂鍍層厚度測量和材料性能統(tǒng)計。它可用于手動檢測樣品，也可用于過程控制和生產(chǎn)過程的定時檢測。菲希爾Fischer測厚儀FISCHERSCOPE MMS涂層測厚儀是一臺小巧和極其多用的的臺式多功能測量系統(tǒng)，有數(shù)據(jù)存儲及數(shù)據(jù)處理能力。模塊化的設(shè)計使用戶可以自己配置不同的測試模塊。

Couloscope CMS2 STEP 庫侖法測厚儀 COULOSCOPE® CMS STEP可以通過定位于電位-時間表中相關(guān)部分的雙指針來方便地測出鍍層厚度和電位差。這個圖表能夠外部保存或通過RS232轉(zhuǎn)換到PC電腦中。